從大(da)(da)理石(shi)的(de)礦(kuang)物結(jie)構來看，晶(jing)粒的(de)大(da)(da)小會影(ying)響到大(da)(da)理石(shi)的(de)光(guang)(guang)澤(ze)度(du)，晶(jing)體(ti)顆粒尺寸(cun)越大(da)(da)，得到的(de)光(guang)(guang)澤(ze)度(du)越低，拋(pao)光(guang)(guang)性(xing)(xing)能(neng)越差。晶(jing)體(ti)顆粒越均勻的(de)大(da)(da)理石(shi)拋(pao)光(guang)(guang)性(xing)(xing)能(neng)越好(hao)。大(da)(da)理石(shi)拋(pao)光(guang)(guang)表面不同測量(liang)方向(xiang)上光(guang)(guang)澤(ze)度(du)的(de)差異(yi)也是存在的(de)，即光(guang)(guang)澤(ze)度(du)具有方向(xiang)性(xing)(xing)，中(zhong)、細晶(jing)粒石(shi)材的(de)拋(pao)光(guang)(guang)表面不同方向(xiang)的(de)一致性(xing)(xing)較好(hao)，且(qie)隨著大(da)(da)理石(shi)的(de)拋(pao)光(guang)(guang)表面光(guang)(guang)澤(ze)度(du)的(de)提(ti)高不同方向(xiang)的(de)差異(yi)性(xing)(xing)在減小。

對于大理石表面的光澤度測試，可使用林上LS192大理石光澤度儀

林上LS192大理石光澤度儀是一款大(da)量程的(de)光澤(ze)度儀(yi)0-1000GU的(de)大(da)量測(ce)試測(ce)試范圍(wei)和60°通用測(ce)量角度，各種材(cai)料表面的(de)光澤(ze)度都可測(ce)試，并(bing)且儀(yi)器支持USB數據傳輸(shu)，具有專用的(de)電腦軟(ruan)件，可聯機操作設置儀(yi)器的(de)統計(ji)次數和打印測(ce)試報告，

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