鍍層厚度檢測的重要性以及鍍層測厚儀的原理

來源:林上科技   發布時間:2019/01/29 14:46  瀏覽:4536
在涂裝施工的過程中,鍍層厚度控制的合不合理,會直接影響到鍍層的外觀質量。可使用鍍層測厚儀LS223,來檢查涂裝施工的質量是否符合要求。

在涂裝施工的過程中,鍍層厚度是一項需要控制的重要指標。控制的合不合理,會直接影響到鍍層的外觀質量。使用鍍層測厚儀LS223,可(ke)(ke)以隨時檢(jian)查涂裝施工(gong)的(de)質量是否符合(he)要(yao)求,如果(guo)發(fa)現(xian)問(wen)題可(ke)(ke)以隨時補救(jiu),從而避免(mian)鍍層厚度(du)不夠而達不到防護要(yao)求的(de)現(xian)象(xiang)發(fa)生。

干膜厚(hou)度的(de)測(ce)(ce)(ce)定,最常見(jian)的(de)是采用渦(wo)流測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)法,磁性測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)法,千分尺法來測(ce)(ce)(ce)試干膜厚(hou)度,鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)LS223,就是結合了前面兩種測(ce)(ce)(ce)厚(hou)方法研發生(sheng)產(chan)的(de)。

1、渦流(liu)測厚(hou)儀(yi)法(fa)的(de)(de)(de)原理是:是由于線(xian)圈(quan)交(jiao)變(bian)磁通量在受(shou)試物體的(de)(de)(de)非磁性金屬表面(mian)中,所感應(ying)生成(cheng)的(de)(de)(de)渦流(liu)而引起了的(de)(de)(de)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)線(xian)圈(quan)的(de)(de)(de)表觀阻抗變(bian)化(hua)。這反過來改變(bian)流(liu)過探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)線(xian)圈(quan)的(de)(de)(de)交(jiao)流(liu)電幅(fu)寬,這種變(bian)化(hua)能(neng)以與探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)所連(lian)接的(de)(de)(de)靈敏儀(yi)測量出。感應(ying)渦流(liu)的(de)(de)(de)大小(xiao)隨(sui)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)線(xian)圈(quan)與基底金屬,就是線(xian)圈(quan)所放置于接觸的(de)(de)(de)干膜厚(hou)度(du)的(de)(de)(de)距離而變(bian)化(hua)。根據使(shi)用(yong)電源(yuan),可以分成(cheng)由交(jiao)流(liu)電供應(ying)電力和半導(dao)體型自身所帶(dai)電池(chi)供電兩種類型。

2、磁(ci)性(xing)(xing)測(ce)厚(hou)(hou)儀法的(de)原(yuan)理(li)是:測(ce)定磁(ci)鐵與(yu)涂層(ceng)或者磁(ci)鐵與(yu)底材(cai)(cai)之間(jian)的(de)磁(ci)引(yin)力。也(ye)可(ke)以測(ce)定通過涂層(ceng)和底材(cai)(cai)的(de)磁(ci)通量。而磁(ci)引(yin)力與(yu)磁(ci)通量的(de)大小則(ze)依據漆膜的(de)非磁(ci)性(xing)(xing)層(ceng)在(zai)磁(ci)體和底材(cai)(cai)之間(jian)的(de)厚(hou)(hou)度而變化(hua),根(gen)據變化(hua)就可(ke)以測(ce)出(chu)鍍層(ceng)厚(hou)(hou)度。

隨著鍍(du)層測厚(hou)儀的發展,市(shi)面上的測厚(hou)儀一般在測量步(bu)驟(zou)上,需(xu)要(yao)通過調零,反(fan)復校(xiao)準后再測試(shi)讀數(shu)。林上鍍(du)層測厚(hou)儀LS223,則(ze)省去繁瑣步(bu)驟(zou),調零完畢即(ji)可開始測試(shi)。非常(chang)簡單方便。

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