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LS211超聲波測厚儀

詳細內容

LS211超聲波測厚(hou)儀利用超聲波脈沖反(fan)射原(yuan)理進行厚(hou)度(du)測量。儀器可搭(da)配標準探頭(tou)(tou)、微徑探頭(tou)(tou)、粗晶探頭(tou)(tou)、高溫探頭(tou)(tou)四種探頭(tou)(tou)，專業用于金屬(如鋼、鋁、銅(tong)等(deng))、塑料、陶(tao)瓷、玻(bo)璃等(deng)能傳(chuan)播超聲波的(de)材料的(de)厚(hou)度(du)測量。儀器采用專業的(de)計(ji)時芯片設計(ji)，分辨率高達0.001mm。

序號	儀器配置	價格（含稅）
1	LS211超聲波測厚儀（含標準探頭）	￥2400
2	微徑探頭	￥240
3	粗晶探頭	￥420
4	高溫探頭	￥850

應用行業

檢(jian)測由腐蝕或(huo)損壞引起的(de)金(jin)屬損失對于(yu)項(xiang)目的(de)正常(chang)運(yun)行或(huo)結構(gou)的(de)安全至(zhi)關重(zhong)要。LS211超聲波測厚儀可應用(yong)于(yu)各種結構(gou)和部件(jian)，包括(kuo)船體、管(guan)道、壓力容器和結構(gou)鋼的(de)厚度(du)測量，幫助確定它們(men)是否需要維(wei)修或(huo)更(geng)換，可以廣泛應用(yong)于(yu)石油、化工(gong)、冶金(jin)、造船、航空、航天等(deng)各個領域(yu)。

產品參數

1. 探頭規格及技術參數：

探頭名稱	標準探頭	微徑探頭	粗晶探頭	高溫探頭
探頭型號	5MHZφ10	7MHZ PT-06	2MHZ ZT-12	5MHZ GT-12
最小測量區域	φ10mm	φ6mm	φ12mm	φ12mm
探頭尺寸	φ18*26mm	φ15*25mm	φ18*28mm	φ43*48mm
測量范圍(45#鋼)	0.8-600mm	0.75-80mm	3-200mm	3-200mm
測量精度 (H為標準值)	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H	H＜10mm:±0.1mm H≥10mm:±1%H	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H
接觸溫度	-10~60℃	-10~60℃	-10~60℃	-10~500℃
適用范圍	測量常規工件	測量曲面及小工件	鑄鐵及一些晶體顆粒大的材料	測量高溫工件

2.主機技術參數：

參數名	參數值
分辨率	0.8-10mm：0.001mm 10-100mm：0.01mm 100-600mm：0.1mm
聲速范圍	1000~9999 m/s
顯示屏	240×160點陣LCD
單位	mm/inch
供電方式	2節AA堿性干電池
主機尺寸	1427228 mm
重量	約230g
工作溫度范圍	-10~50℃，0~85%RH（無凝露）
存儲溫度范圍	-10~60℃，0~85%RH（無凝露）

儀器特點

1、材(cai)料厚度是(shi)由(you)脈沖在被(bei)測(ce)(ce)材(cai)料中傳播所需(xu)的(de)時間和材(cai)料聲速來確定的(de)，LS211內置專(zhuan)業的(de)計(ji)時芯片，具有良好的(de)穩(wen)定性(xing)和測(ce)(ce)試精度，分辨率能夠(gou)精確到0.001mm。

2、儀器(qi)使(shi)用高(gao)靈(ling)敏度超聲波雙(shuang)晶探(tan)頭，能夠有效減(jian)少(shao)雜波，探(tan)頭外殼由不銹鋼(gang)制成(cheng)，堅硬耐(nai)用。

3、儀(yi)器可搭配標準探(tan)頭(tou)(tou)、微徑探(tan)頭(tou)(tou)、粗晶探(tan)頭(tou)(tou)、高溫探(tan)頭(tou)(tou)四(si)種探(tan)頭(tou)(tou)，智(zhi)能識別探(tan)頭(tou)(tou)的(de)型號，儀(yi)器根據探(tan)頭(tou)(tou)類型自適應(ying)顯示界面。

4、材(cai)料的(de)材(cai)質和厚(hou)(hou)度(du)會影響探頭接收到的(de)信號(hao)的(de)強弱，LS211超聲波測厚(hou)(hou)儀可以根據材(cai)料類(lei)型和厚(hou)(hou)度(du)自動選擇合(he)適的(de)增益，即信號(hao)放大倍數，以達到最佳的(de)測量效果。

5、儀器測試精度高，確保能通過國家權(quan)威計量院檢測。

6、儀器用于測量(liang)(liang)金屬（鋼/鐵/鋁/銅）和(he)(he)(he)非金屬（陶瓷、塑料和(he)(he)(he)玻璃）基體和(he)(he)(he)任(ren)何其他(ta)超聲(sheng)波導體的(de)(de)厚度，測試時(shi)，材料的(de)(de)另一(yi)表面(mian)必須與被測面(mian)平(ping)行或同軸(zhou)(zhou)。曲面(mian)測量(liang)(liang)時(shi)，探(tan)頭的(de)(de)分割面(mian)應(ying)與曲面(mian)軸(zhou)(zhou)線垂直測量(liang)(liang)。

7、儀器(qi)具有(you)穿(chuan)透(tou)涂(tu)(tu)層(ceng)測(ce)量(liang)模式，當工件表面有(you)涂(tu)(tu)層(ceng)或(huo)漆(qi)層(ceng)時，會使測(ce)量(liang)結果出現(xian)誤差。標準探頭帶有(you)穿(chuan)透(tou)涂(tu)(tu)層(ceng)的(de)測(ce)量(liang)方式，無需(xu)清除工件表面的(de)涂(tu)(tu)層(ceng)，即(ji)可以精確(que)測(ce)量(liang)工件涂(tu)(tu)層(ceng)下基材的(de)實(shi)際(ji)厚(hou)度。