電(dian)鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)分為磁(ci)感(gan)應(ying)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，電(dian)渦流測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，熒光(guang)X射線儀(yi)電(dian)鍍(du)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)。早(zao)期的(de)產(chan)品采用指(zhi)(zhi)針式(shi)表頭，測(ce)(ce)量感(gan)應(ying)電(dian)動勢(shi)的(de)大(da)小，電(dian)鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)將該信號放(fang)大(da)后來指(zhi)(zhi)示(shi)覆層(ceng)厚(hou)度。

近年來的(de)電路(lu)設計(ji)引(yin)入穩(wen)頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁(ci)阻(zu)來調制測量信號。還(huan)采用設計(ji)的(de)集成電路(lu)，引(yin)入微機(ji)，使測量精度和(he)重(zhong)現性有了大幅(fu)度的(de)提高。磁(ci)性原理電鍍(du)層測厚儀(yi)可應(ying)用來測量鋼(gang)鐵表面(mian)的(de)油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料(liao)、橡膠覆層以(yi)及化(hua)工石(shi)油待(dai)業(ye)的(de)各種防腐(fu)涂層。

我(wo)們的(de)實際測(ce)量工作中，影響電(dian)鍍層測(ce)厚儀測(ce)量的(de)因素(su)主(zhu)要(yao)有以下一(yi)些：

一、基體金屬的選擇

基體(ti)金(jin)屬的(de)(de)選擇于(yu)試件的(de)(de)測(ce)(ce)試是(shi)息息相(xiang)關(guan)的(de)(de)，首(shou)先專業的(de)(de)電鍍層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)分有磁性(xing)(xing)方法(fa)和渦流方法(fa)，兩種方法(fa)對于(yu)電鍍層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)的(de)(de)基體(ti)金(jin)屬標準片都有不一樣的(de)(de)磁性(xing)(xing)和電性(xing)(xing)要求，必須要對號入座的(de)(de)進行測(ce)(ce)量匹(pi)配，并且(qie)基體(ti)金(jin)屬的(de)(de)厚(hou)度對于(yu)我們的(de)(de)測(ce)(ce)量也有一定(ding)的(de)(de)影響。

二、測試時的環境和條件

電鍍(du)層(ceng)測(ce)厚儀的(de)(de)(de)(de)測(ce)試本身是(shi)非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)的(de)(de)(de)(de)，它的(de)(de)(de)(de)出現極大的(de)(de)(de)(de)提(ti)高了(le)我(wo)(wo)們(men)(men)對(dui)于產(chan)(chan)品測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)效率，但(dan)是(shi)我(wo)(wo)們(men)(men)在測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)時候需(xu)(xu)要(yao)注意(yi)(yi)到測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)環(huan)境以及必要(yao)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)條(tiao)件(jian)，首先我(wo)(wo)們(men)(men)需(xu)(xu)要(yao)注意(yi)(yi)測(ce)量(liang)(liang)(liang)時周圍(wei)的(de)(de)(de)(de)磁場環(huan)境，磁場過高或不穩定都會對(dui)我(wo)(wo)們(men)(men)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)數據(ju)產(chan)(chan)生影(ying)響，其(qi)次潮濕(shi)的(de)(de)(de)(de)環(huan)境也(ye)是(shi)不利于我(wo)(wo)們(men)(men)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)，而基(ji)體金屬標準片與試件(jian)本身的(de)(de)(de)(de)一些條(tiao)件(jian)也(ye)會影(ying)響到我(wo)(wo)們(men)(men)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)數據(ju)，例如電鍍(du)層(ceng)測(ce)厚儀基(ji)體金屬片表(biao)層(ceng)的(de)(de)(de)(de)粗糙程度等等。

三、測量時的一些其它影響因素

我們(men)在(zai)進行(xing)測量的時候要(yao)(yao)注意(yi)到試件表(biao)面要(yao)(yao)保持清(qing)潔不能有異物遮(zhe)擋(dang)，并且(qie)即便是可信賴的電鍍層測厚儀在(zai)測量時也(ye)都容易受到一些突然變化的影(ying)響所以我們(men)要(yao)(yao)避(bi)免在(zai)試件的曲面和(he)邊(bian)緣(yuan)進行(xing)測量。

我們(men)選擇(ze)到了一(yi)個優秀的(de)(de)(de)(de)電鍍(du)層測(ce)(ce)厚儀并不意(yi)味著我們(men)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量數據就(jiu)會一(yi)定(ding)的(de)(de)(de)(de)準確，因為在測(ce)(ce)量過(guo)程中總會有(you)一(yi)些(xie)細(xi)微的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)(xiang)因素(su)需要我們(men)去注(zhu)意(yi)，只有(you)處(chu)理好這些(xie)影響(xiang)(xiang)因素(su)才會使我們(men)的(de)(de)(de)(de)電鍍(du)層測(ce)(ce)厚儀能夠(gou)真正(zheng)的(de)(de)(de)(de)發(fa)揮出其應有(you)的(de)(de)(de)(de)作用。

林上LS225+F500電鍍層測厚儀是(shi)一款主機與探頭分離體式設計的(de)儀(yi)器，探頭最(zui)大測(ce)量范圍為500μm，主要可(ke)用(yong)來測(ce)量鋼、鐵等鐵磁(ci)性(xing)金屬基體上的(de)鍍(du)(du)銅(tong)，鍍(du)(du)鋅，鍍(du)(du)錫(xi)以(yi)及涂料(liao)(liao)，清漆，搪瓷等非(fei)磁(ci)性(xing)涂鍍(du)(du)層的(de)測(ce)量，LS225+F500電(dian)鍍(du)(du)層測(ce)厚儀(yi)特別(bie)適合測(ce)試(shi)超薄涂鍍(du)(du)層或(huo)異(yi)形小尺寸材(cai)料(liao)(liao)，還配有專用(yong)的(de)測(ce)試(shi)夾具供客戶選購。