涂層測厚儀的測量原理

來源:林上科技   發布時間:2019/01/11 09:57  瀏覽:7495
林上的涂層測厚儀包含兩種測量原理,磁性測量原理和渦流測量原理。適用于鐵基和非鐵基上的涂層厚度測量。

常見的涂層測厚儀一般包含磁性和渦流兩種測量原理,又分為一體式和分體式。一體式指探頭和主機在一起;分體式指探頭和主機分開。林上的LS220是一款一體式的涂層測厚儀,LS221是一款分體式的涂層測厚儀

林上涂(tu)層(ceng)測厚儀采用霍爾效應和電渦(wo)流效應可用于鋼鐵(tie)等鐵(tie)磁(ci)性金屬(shu)基(ji)體上的(de)涂(tu)料、清漆、搪(tang)瓷(ci)、鉻、鍍鋅等非磁(ci)性涂(tu)層(ceng)的(de)測量;渦(wo)流原(yuan)理(li)指儀器可用于銅、鋁、壓鑄鋅、黃銅等非磁(ci)性金屬(shu)基(ji)體上的(de)涂(tu)料、陽極氧化(hua)層(ceng)、陶瓷(ci)等非導電涂(tu)層(ceng)的(de)測量。

林上的涂層測厚儀既有磁性測(ce)量(liang)(liang)原(yuan)理(li)(li),也有渦(wo)流(liu)測(ce)量(liang)(liang)原(yuan)理(li)(li)。磁性測(ce)量(liang)(liang)原(yuan)理(li)(li)用(yong)于檢測(ce)鐵(tie)基(ji)上的(de)(de)涂層(ceng)厚(hou)度,渦(wo)流(liu)原(yuan)理(li)(li)用(yong)于檢測(ce)非鐵(tie)基(ji)上的(de)(de)涂層(ceng)厚(hou)度。所以林上的(de)(de)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀具有三種測(ce)量(liang)(liang)模(mo)(mo)式(shi),分別是鐵(tie)基(ji)(Fe)測(ce)量(liang)(liang)模(mo)(mo)式(shi),非鐵(tie)基(ji)(NFe)測(ce)量(liang)(liang)模(mo)(mo)式(shi),自動識(shi)別(Fe/NFe)模(mo)(mo)式(shi)。可根據(ju)實際(ji)情況選(xuan)擇測(ce)量(liang)(liang)模(mo)(mo)式(shi)。

標簽: 涂層測厚儀
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