LS225+N1500是(shi)一款分(fen)體式(shi)的(de)鋁基(ji)(ji)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀，由主機LS225和(he)非鐵(tie)基(ji)(ji)探頭(tou)N1500組成(cheng)。儀器采用(yong)渦流感應原理，具有超(chao)高(gao)的(de)測(ce)量精(jing)度(du)和(he)重復(fu)性，配上(shang)探針式(shi)的(de)測(ce)頭(tou)設計(ji)，特(te)別適用(yong)于測(ce)量超(chao)薄涂鍍層(ceng)以及各種小尺寸工件、異型材料。

主(zhu)要用于(yu)鋁(lv)合金(jin)(jin)型材，鋁(lv)板(ban)，鋁(lv)塑(su)板(ban)以及各種(zhong)鋁(lv)工件表面(mian)的(de)陽極氧化層以及黃(huang)銅，紫銅等有(you)色(se)金(jin)(jin)屬基體(ti)上(shang)的(de)非導電涂(tu)層厚度測量。

1.探針式測頭(tou)設(she)計，特別(bie)適(shi)合(he)于測量小(xiao)尺寸和異(yi)型材料上的涂鍍(du)層(ceng)厚度。

2.采用數(shu)字(zi)震蕩技術和高速ADC采集，可測量10μm以下超薄涂鍍層且確保數(shu)據精(jing)準穩定(ding)。

3.采用數(shu)(shu)字探頭，數(shu)(shu)字信號在探頭上處理，不易(yi)受外界環境干擾，確保(bao)良(liang)好的數(shu)(shu)據重復性。

4.具有超寬(kuan)量程0-1500μm，測量單位μm和mil可切(qie)換。

5.選購專(zhuan)用的手壓測(ce)試機(ji)架能消除(chu)人為因(yin)素(su)造成(cheng)的誤差，數(shu)據重復(fu)性可達(da)0.1μm

6.?支持調(diao)(diao)零(ling)(ling)和(he)多點(dian)校(xiao)準確保數據更加精(jing)準，配(pei)備專門的調(diao)(diao)零(ling)(ling)板和(he)標準片。

7.具備數據(ju)統計(ji)功能，自動統計(ji)最(zui)近(jin)9組數據(ju)的最(zui)大值，最(zui)小值，平均值和方(fang)差值。